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IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.
Adjusted volume calculation for refrigerating appliances
Die Norm herausgegeben am 22.5.2017
Ausgewählte Ausführung:Maritime navigation and radiocommunication equipment and systems - Removable external data source (REDS) - General requirements, methods of testing and required test results
Die Norm herausgegeben am 20.10.2016
Ausgewählte Ausführung:Graphical symbols for diagrams - Guidance on design for standardization in IEC 60617
Die Norm herausgegeben am 23.1.2018
Ausgewählte Ausführung:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Die Norm herausgegeben am 15.9.2017
Ausgewählte Ausführung:Amendment 1 - Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Änderung herausgegeben am 3.6.2022
Ausgewählte Ausführung:Guidelines for operation and maintenance of line commutated converter (LCC) HVDC converter station
Die Norm herausgegeben am 3.6.2022
Ausgewählte Ausführung:Low-voltage docking connectors for removable energy storage units
Die Norm herausgegeben am 22.3.2017
Ausgewählte Ausführung:
Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)
Die Norm herausgegeben am 24.6.2020
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects
Die Norm herausgegeben am 30.1.2019
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection
Die Norm herausgegeben am 30.1.2019
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2024-05-17 (Zahl der Positionen: 2 902 148)
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