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IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.
Corrigendum 1 - Industrial networks - Wireless communication network and communication profiles - WIA-FA
Korrektur herausgegeben am 3.3.2021
Ausgewählte Ausführung:
Particular safety requirements for equipment to be connected to information and communication technology networks
(Exigences de securite specifiques pour les equipements destines a etre connectes aux reseaux d´information et de communication)
Die Norm herausgegeben am 20.1.2017
Ausgewählte Ausführung:Household and similar electrical appliances - Specifying smart capabilities of appliances and devices - General aspects
Die Norm herausgegeben am 26.10.2017
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 1: Bending test method for conductive thin films on flexible substrates
Die Norm herausgegeben am 10.4.2017
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing and threshold voltage of flexible devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs a semiconducteurs souples et extensibles - Partie 2 : Methode d’evaluation pour la mobilite des electrons, la pente en regime de sous-seuil et la tension de seuil des dispositifs souples)
Die Norm herausgegeben am 17.4.2019
Ausgewählte Ausführung:Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging
Die Norm herausgegeben am 7.11.2018
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 4: Fatigue evaluation for flexible conductive thin film on the substrate for flexible semiconductor devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs a semiconducteurs souples et extensibles - Partie 4: Evaluation de la fatigue pour les couches minces conductrices souples sur les substrats pour dispositifs a semiconducteurs souples)
Die Norm herausgegeben am 27.2.2019
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs a semiconducteurs souples et extensibles - Partie 5 : Methode d’essai pour les caracteristiques thermiques des materiaux souples)
Die Norm herausgegeben am 27.2.2019
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs a semiconducteurs souples et extensibles - Partie 6: Methode d’essai pour la resistance de couche des couches conductrices souples)
Die Norm herausgegeben am 6.5.2019
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 7: Test method for characterizing the barrier performance of thin film encapsulation for flexible organic semiconductor
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs a semiconducteurs souples et extensibles - Partie 7: Methode d’essai pour caracteriser la performance des barrieres en couches minces utilisees pour l’encapsulation des semiconducteurs organiques souples)
Die Norm herausgegeben am 27.2.2019
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2025-05-08 (Zahl der Positionen: 2 198 869)
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