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IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 1074

Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 1074

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

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Ansicht IEC/TS 63066-ed.1.0 22.3.2017
IEC/TS 63066-ed.1.0

Low-voltage docking connectors for removable energy storage units

Die Norm herausgegeben am 22.3.2017

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Ansicht IEC 63067-ed.1.0 24.6.2020
IEC 63067-ed.1.0

Electrical installations for lighting and beaconing of aerodromes - Connecting devices - General requirements and tests
(Installations electriques pour l´eclairage et le balisage des aerodromes - Dispositifs de connexion - Exigences generales et essais)

Die Norm herausgegeben am 24.6.2020

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Ansicht IEC 63068-1-ed.1.0 30.1.2019
IEC 63068-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 1: Classification of defects

Die Norm herausgegeben am 30.1.2019

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Ansicht IEC 63068-2-ed.1.0 30.1.2019
IEC 63068-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2: Test method for defects using optical inspection

Die Norm herausgegeben am 30.1.2019

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Ansicht IEC 63068-3-ed.1.0 13.7.2020
IEC 63068-3-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 3: Test method for defects using photoluminescence
(Dispositifs a semiconducteurs - Criteres de reconnaissance non destructifs des defauts au sein d’une plaquette homoepitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Methode d’essai pour les defauts a l’aide de la photoluminescence)

Die Norm herausgegeben am 13.7.2020

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Ansicht IEC 63068-4-ed.1.0 27.7.2022
IEC 63068-4-ed.1.0

Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence

Die Norm herausgegeben am 27.7.2022

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Ansicht IEC/TR 63069-ed.1.0 20.5.2019
IEC/TR 63069-ed.1.0

Industrial-process measurement, control and automation - Framework for functional safety and security

Die Norm herausgegeben am 20.5.2019

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Ansicht IEC/TS 63070-ed.1.0 15.2.2019
IEC/TS 63070-ed.1.0

Ultrasonics - Field characterization - Infrared imaging techniques for determining temperature elevation in tissue-mimicking material and at the radiation surface of a transducer in still air

Die Norm herausgegeben am 15.2.2019

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Ansicht IEC/TR 63071-ed.1.0 14.12.2016
IEC/TR 63071-ed.1.0

Power supplying scheme for wearable system and equipment

Die Norm herausgegeben am 14.12.2016

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Ansicht IEC/TR 63072-1-ed.1.0 11.5.2017
IEC/TR 63072-1-ed.1.0

Photonic integrated circuits - Part 1: Introduction and roadmap for standardization

Die Norm herausgegeben am 11.5.2017

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Letzte Aktualisierung: 2026-04-28 (Zahl der Positionen: 2 274 955)
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