IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 1085

Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 1085

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

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IEC 63267-3-81-ed.1.0

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Connector optical interfaces for enhanced macro bend multimode fibre - Part 3-81: Connector parameters of physically contacting 50 µm core diameter fibres - Non-angled polyphenylene sulphide rectangular ferrules with a single row of 12, 8, 4, or 2 fibres for reference connector applications
(Dispositifs d’interconnexion et composants passifs fibroniques - Interfaces optiques des connecteurs pour fibres multimodales ameliorees en macrocourbures - Partie 3-81: Parametres de connexion des fibres d’un diametre de coeur de 50 µm en contact physique - Ferrules rectangulaires non inclinees en polysulfure de phenylene avec une seule rangee de 12, 8, 4 ou 2 fibres, pour les applications de connecteurs de reference)

Die Norm herausgegeben am 25.6.2025

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148.30


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IEC/SRD 63268-ed.1.0

Energy and data interfaces of users connected to the smart grid with other smart grid stakeholders - Standardization landscape

Die Norm herausgegeben am 29.10.2020

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470.80


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IEC 63269-ed.1.0

Maritime navigation and radiocommunication equipment and systems - Maritime survivor locating devices (man overboard devices) - Minimum requirements, methods of testing and required test results
(Materiels et systemes de navigation et de radiocommunication maritimes - Dispositifs de localisation des survivants en mer (dispositifs en cas d´homme a la mer) - Exigences minimales, methodes d´essai et resultats d´essai exiges)

Die Norm herausgegeben am 25.5.2022

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412.80


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IEC 63270-1-ed.1.0

Predictive maintenance of industrial automation equipment and systems - Part 1: General requirements
(Maintenance predictive des equipements et systemes d´automatisation industrielle - Partie 1: Exigences generales)

Die Norm herausgegeben am 17.4.2025

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361.20


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IEC 63272-ed.1.0

Nuclear facilities - Electrical power systems - AC interruptible power supply systems
(Installations nucleaires - Systemes d´alimentation electrique - Systemes d´alimentation electrique interruptibles en courant alternatif)

Die Norm herausgegeben am 7.8.2024

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412.80


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IEC/SRD 63273-1-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 1: High-level analysis

Die Norm herausgegeben am 25.8.2023

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470.80


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IEC/SRD 63273-2-ed.1.0

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 2: Use case analysis

Die Norm herausgegeben am 3.4.2024

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528.80


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IEC/TR 63274-ed.1.0

Power consumption of high dynamic range television sets

Die Norm herausgegeben am 5.3.2021

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361.20


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IEC 63275-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 1: Methode d’essai pour la mesure de la derive de la tension de seuil apres polarisation electrique en temperature)

Die Norm herausgegeben am 21.4.2022

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103.20


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IEC 63275-2-ed.1.0

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 2: Methode d’essai de la degradation bipolaire due au fonctionnement de la diode intrinseque)

Die Norm herausgegeben am 11.5.2022

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51.60


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