Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 1106

Energy and data interfaces of users connected to the smart grid with other smart grid stakeholders - Standardization landscape

Die Norm herausgegeben am 29.10.2020

Maritime navigation and radiocommunication equipment and systems - Maritime survivor locating devices (man overboard devices) - Minimum requirements, methods of testing and required test results
(Materiels et systemes de navigation et de radiocommunication maritimes - Dispositifs de localisation des survivants en mer (dispositifs en cas d´homme a la mer) - Exigences minimales, methodes d´essai et resultats d´essai exiges)

Die Norm herausgegeben am 25.5.2022

Predictive maintenance of industrial automation equipment and systems - Part 1: General requirements
(Maintenance predictive des equipements et systemes d´automatisation industrielle - Partie 1: Exigences generales)

Die Norm herausgegeben am 17.4.2025

Nuclear facilities - Electrical power systems - AC interruptible power supply systems
(Installations nucleaires - Systemes d´alimentation electrique - Systemes d´alimentation electrique interruptibles en courant alternatif)

Die Norm herausgegeben am 7.8.2024

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 1: High-level analysis

Die Norm herausgegeben am 25.8.2023

Smart city use case collection and analysis - City information modelling - Part 2: Use case analysis

Die Norm herausgegeben am 3.4.2024

Power consumption of high dynamic range television sets

Die Norm herausgegeben am 5.3.2021

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 1: Test method for bias temperature instability
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 1: Methode d’essai pour la mesure de la derive de la tension de seuil apres polarisation electrique en temperature)

Die Norm herausgegeben am 21.4.2022

Semiconductor devices - Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors - Part 2: Test method for bipolar degradation due to body diode operation
(Dispositifs a semiconducteurs - Methode d’essai de fiabilite pour les transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteurs discrets en carbure de silicium - Partie 2: Methode d’essai de la degradation bipolaire due au fonctionnement de la diode intrinseque)

Die Norm herausgegeben am 11.5.2022

Guidelines for the hosting capacity evaluation of distribution networks for distributed energy resources

Die Norm herausgegeben am 17.9.2024