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IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 805

Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 805

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

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Ansicht IEC 62047-40-ed.1.0 3.9.2021
IEC 62047-40-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold

Die Norm herausgegeben am 3.9.2021

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Ansicht IEC 62047-41-ed.1.0 15.6.2021
IEC 62047-41-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 41: RF MEMS circulators and isolators
(Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs microelectromecaniques - Partie 41: Circulateurs et isolateurs a MEMS RF)

Die Norm herausgegeben am 15.6.2021

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Ansicht IEC 62047-42-ed.1.0 16.9.2022
IEC 62047-42-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever

Die Norm herausgegeben am 16.9.2022

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Ansicht IEC 62047-43-ed.1.0 19.3.2024
IEC 62047-43-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices

Die Norm herausgegeben am 19.3.2024

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Ansicht IEC 62047-44-ed.1.0 22.2.2024
IEC 62047-44-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices

Die Norm herausgegeben am 22.2.2024

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Ansicht IEC 62047-45-ed.1.0 20.3.2025
IEC 62047-45-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures

Die Norm herausgegeben am 20.3.2025

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Ansicht IEC 62047-46-ed.1.0 23.4.2025
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Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 46: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of tensile strength of nanoscale thickness membrane

Die Norm herausgegeben am 23.4.2025

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Ansicht IEC 62047-47-ed.1.0 23.8.2024
IEC 62047-47-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 47: Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of bending strength of microstructures

Die Norm herausgegeben am 23.8.2024

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Ansicht IEC 62047-48-ed.1.0 7.6.2024
IEC 62047-48-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 48: Test method for determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device

Die Norm herausgegeben am 7.6.2024

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Ansicht IEC 62047-49-ed.1.0 25.11.2025
IEC 62047-49-ed.1.0

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 49: Temperature and humidity test methods for piezoelectric MEMS cantilevers

Die Norm herausgegeben am 25.11.2025

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Letzte Aktualisierung: 2026-07-01 (Zahl der Positionen: 2 285 809)
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