IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 853

Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 853

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

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IEC/TR 62368-2-ed.3.0-RLV

Audio/video, information and communication technology equipment - Part 2: Explanatory information related to IEC 62368-1:2018

Die Norm herausgegeben am 7.5.2019

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679.30


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IEC 62368-3-ed.1.0

Audio/video, information and communication technology equipment - Part 3: Safety aspects for DC power transfer through communication cables and ports
(Equipements des technologies de l´audio/video, de l´information et de la communication - Partie 3: Aspects lies a la securite relatifs au transfert de puissance en courant continu au moyen de cables et d’acces de communication)

Die Norm herausgegeben am 7.12.2017

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233.40


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IEC 62369-1-ed.1.0

Evaluation of human exposure to electromagnetic fields from short range devices (SRDs) in various applications over the frequency range 0 GHz to 300 GHz - Part 1: Fields produced by devices used for electronic article surveillance, radio frequency identification and similar systems
(Evaluation de l´exposition humaine aux champs electromagnetiques produits par les dispositifs radio a courte portee dans la plage de frequence 0 GHz a 300 GHz - Partie 1: Champs produits par les dispositifs utilises pour la surveillance electronique des objets, l´identification par radiofrequence et les systemes similaires)

Die Norm herausgegeben am 28.8.2008

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423.80


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IEC/TS 62370-ed.1.0

Electroacoustics - Instruments for the measurement of sound intensity - Electromagnetic and electrostatic compatibility requirements and test procedures
(Electroacoustique - Instruments pour la mesure de l´intensite acoustique - Exigences concernant les compatibilites electromagnetiques et electrostatiques et procedures d´essai)

Die Norm herausgegeben am 10.5.2004

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98.30


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IEC/TS 62370-ed.1.0/Amd.1 Änderung

Amendment 1 - Electroacoustics - Instruments for the measurement of sound intensity - Electromagnetic and electrostatic compatibility requirements and test procedures

Änderung herausgegeben am 8.3.2017

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12.30


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IEC/TS 62370-ed.1.1+Amd.1-CSV

Electroacoustics - Instruments for the measurement of sound intensity - Electromagnetic and electrostatic compatibility requirements and test procedures

Die Norm herausgegeben am 8.3.2017

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141.30


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IEC/TS 62371-ed.1.0

Characteristics of hollow pressurised and unpressurised ceramic and glass insulators for use in electrical equipment with rated voltages greater than 1000 V

Die Norm herausgegeben am 14.5.2008

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184.30


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IEC 62372-ed.2.0

Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution
(Instrumentation nucleaire - Scintillateurs montes - Methodes d´essai de lumiere sortante et de resolution intrinseque)

Die Norm herausgegeben am 3.2.2021

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141.30


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IEC 62373-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET) - Partie 1: Essai rapide de BTI pour les MOSFET)

Die Norm herausgegeben am 15.7.2020

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184.30


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IEC 62373-ed.1.0

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
(Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET))

Die Norm herausgegeben am 18.7.2006

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98.30


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