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IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 876

Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 876

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

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Ansicht IEC 62372-ed.2.0 3.2.2021
IEC 62372-ed.2.0

Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution
(Instrumentation nucleaire - Scintillateurs montes - Methodes d´essai de lumiere sortante et de resolution intrinseque)

Die Norm herausgegeben am 3.2.2021

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Ansicht IEC 62373-1-ed.1.0 15.7.2020
IEC 62373-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET) - Partie 1: Essai rapide de BTI pour les MOSFET)

Die Norm herausgegeben am 15.7.2020

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Ansicht IEC 62373-ed.1.0 18.7.2006
IEC 62373-ed.1.0

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
(Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET))

Die Norm herausgegeben am 18.7.2006

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Ansicht IEC 62374-1-ed.1.0 29.9.2010
IEC 62374-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 1: Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermetalliques)

Die Norm herausgegeben am 29.9.2010

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Ansicht IEC 62374-ed.1.0 29.3.2007
IEC 62374-ed.1.0

Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille)

Die Norm herausgegeben am 29.3.2007

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Ansicht IEC 62375-ed.1.0 26.2.2004
IEC 62375-ed.1.0

Video systems (625/50 progressive) - Video and accompanied data using the vertical blanking interval - Analogue interface
(Systemes video (625/50 progressif) - Donnees video et donnees associees utilisant l´intervalle de suppression de trame - Interface analogique)

Die Norm herausgegeben am 26.2.2004

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Ansicht IEC 62379-1-ed.1.0 30.8.2007
IEC 62379-1-ed.1.0

Common control interface for networked digital audio and video products - Part 1: General
(Interface de commande commune des produits audio et video numeriques connectes en reseaux - Partie 1: Generalites)

Die Norm herausgegeben am 30.8.2007

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Ansicht IEC 62379-2-ed.1.0 8.9.2008
IEC 62379-2-ed.1.0

Common control interface for networked digital audio and video products - Part 2: Audio
(Interface de commande commune pour produits audio et video numeriques connectes en reseau - Partie 2: Audio)

Die Norm herausgegeben am 8.9.2008

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Ansicht IEC 62379-3-ed.1.0 5.6.2015
IEC 62379-3-ed.1.0

Common control interface for networked digital audio and video products - Part 3: Video
(Interface de commande commune pour produits audio et video numeriques connectes en reseaux - Partie 3: Video)

Die Norm herausgegeben am 5.6.2015

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Ansicht IEC 62379-5-1-ed.1.0 9.7.2014
IEC 62379-5-1-ed.1.0

Common control interface for networked digital audio and video products - Part 5-1: Transmission over networks - General
(Interface de commande commune pour produits audio et video numeriques connectes en reseau - Partie 5-1: Transmission sur des reseaux - Generalites)

Die Norm herausgegeben am 9.7.2014

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