IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 885

Normen IEC - Internationale elektrotechnische Organisation - Seite Nr. 885

IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.

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IEC/TS 62370-ed.1.0/Amd.1 Änderung

Amendment 1 - Electroacoustics - Instruments for the measurement of sound intensity - Electromagnetic and electrostatic compatibility requirements and test procedures

Änderung herausgegeben am 8.3.2017

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13.10


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IEC/TS 62370-ed.1.1+Amd.1-CSV

Electroacoustics - Instruments for the measurement of sound intensity - Electromagnetic and electrostatic compatibility requirements and test procedures

Die Norm herausgegeben am 8.3.2017

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203.50


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IEC/TS 62371-ed.1.0

Characteristics of hollow pressurised and unpressurised ceramic and glass insulators for use in electrical equipment with rated voltages greater than 1000 V

Die Norm herausgegeben am 14.5.2008

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210.00


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IEC 62372-ed.2.0

Nuclear instrumentation - Housed scintillators - Test methods of light output and intrinsic resolution
(Instrumentation nucleaire - Scintillateurs montes - Methodes d´essai de lumiere sortante et de resolution intrinseque)

Die Norm herausgegeben am 3.2.2021

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151.00


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IEC 62373-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1: Fast BTI test for MOSFET
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET) - Partie 1: Essai rapide de BTI pour les MOSFET)

Die Norm herausgegeben am 15.7.2020

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210.00


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IEC 62373-ed.1.0

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
(Essai de stabilite de temperature en polarisation pour transistors a effet de champ metal-oxyde-semiconducteur (MOSFET))

Die Norm herausgegeben am 18.7.2006

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105.00


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IEC 62374-1-ed.1.0

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
(Dispositifs a semiconducteurs - Partie 1: Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour les couches intermetalliques)

Die Norm herausgegeben am 29.9.2010

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105.00


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IEC 62374-ed.1.0

Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de rupture dielectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille)

Die Norm herausgegeben am 29.3.2007

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210.00


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IEC 62375-ed.1.0

Video systems (625/50 progressive) - Video and accompanied data using the vertical blanking interval - Analogue interface
(Systemes video (625/50 progressif) - Donnees video et donnees associees utilisant l´intervalle de suppression de trame - Interface analogique)

Die Norm herausgegeben am 26.2.2004

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105.00


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IEC 62379-1-ed.1.0

Common control interface for networked digital audio and video products - Part 1: General
(Interface de commande commune des produits audio et video numeriques connectes en reseaux - Partie 1: Generalites)

Die Norm herausgegeben am 30.8.2007

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498.80


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