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IEC – Die Gesellschaft IEC ist eine vordere Weltorganisation, von der die Internationalen Normen für alle elektrischen, elektrotechnischen und zusammenhängende Technologien, zusammenfassend „Elektrotechnologien“ herausgegeben werden. Überall dort, wo sich Strom und Elektrotechnik befindet, findet man auch die Gesellschaft IEC, von der die Sicherheit und Leistung, Umwelt, Stromwirkung und erneuerbare Energie durchgesetzt werden. Von der Gesellschaft IEC werden auch Systeme zur Konformitätsbeurteilung verwaltet, die bescheinigen, dass Anlagen, Systeme oder Komponenten den Internationalen Normen dieser Gesellschaft entsprechen.
Ferrite cores - Technology approval schedule (TAS)
Die Norm herausgegeben am 12.10.2004
Ausgewählte Ausführung:
Radiation protection instrumentation - Alarming personal radiation devices (PRDs) for the detection of illicit trafficking of radioactive material
(Instrumentation pour la radioprotection - Dispositifs individuels d´alarme aux rayonnements pour la detection du trafic illicite des matieres radioactives)
Die Norm herausgegeben am 15.12.2017
Ausgewählte Ausführung:
Obsolescence management
(Gestion de l´obsolescence)
Die Norm herausgegeben am 29.5.2019
Ausgewählte Ausführung:
High density recording format on CD-R/RW disc systems - HD-BURN format
(Format d´enregistrement a haute densite sur un systeme a disque CD-R/RW - Format HD-BURN)
Die Norm herausgegeben am 24.6.2005
Ausgewählte Ausführung:Logic digital integrated circuits - Specification for I/O interface model for integrated circuit (IMIC version 1.3)
Die Norm herausgegeben am 20.2.2007
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai d´electromigration en courant constant)
Die Norm herausgegeben am 19.5.2010
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai de porteur chaud sur les transistors MOS)
Die Norm herausgegeben am 26.4.2010
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
(Dispositifs a semiconducteurs - Essais d´ions mobiles pour transistors a semiconducteurs a oxyde metallique a effet de champ (MOSFETs))
Die Norm herausgegeben am 22.4.2010
Ausgewählte Ausführung:
Semiconductor devices - Metallization stress void test
(Dispositifs a semiconducteurs - Essai sur les cavites dues aux contraintes de la metallisation)
Die Norm herausgegeben am 22.4.2010
Ausgewählte Ausführung:
Control technology - Rules for the designation of measuring instruments
(Technologie de commande et de regulation - Regles pour la designation des instruments de mesure)
Die Norm herausgegeben am 5.11.2008
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2025-07-18 (Zahl der Positionen: 2 208 817)
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