IEEE - Progressive Technologie für Menschen - Seite Nr. 300

Normen IEEE - Progressive Technologie für Menschen - Seite Nr. 300

Die Assoziation IEEE, die sich der Unterstützung von Innovationen und vollkommenen Technologien im Interesse der Menschheit widmet, ist die größte technische Fachgesellschaft. Ihr Zweck ist den Spezialisten in Elektrotechnik, Elektronik und EDV-Technologien sowie in zusammenhängenden Bereichen der Wissenschaft und Technologie zu dienen, die zu Bestandteilen der modernen Zivilisation gehören. Die Wurzeln der Gesellschaft IEEE reichen bis zum Jahr 1884 zurück, als die Elektrizität die Gesellschaft bedeutsam zu beeinflussen begann. Damals existierte eine eingeführte elektrotechnische Branche, und zwar der Telegraf, der seit 40. Jahren des 19. Jahrhunderts die Welt mit Kommunikationsdatensystem schneller verbunden hat, als der Verkehr. Die Telefonindustrie sowie die energetische und Leichtindustrie stand erst am Anfang.

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IEEE/AIEE 25-1952 UNGÜLTIG

AIEE Standards for Fuses Above 600 Volts

UNGÜLTIG herausgegeben am 31.7.1952

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IEEE/AIEE 25-1958 UNGÜLTIG

AIEE Standards for Fuses Above 600 Volts

UNGÜLTIG herausgegeben am 14.2.1958

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IEEE 251-1963 UNGÜLTIG

IEEE Proposed Test Procedure for Direct Current Tachometer Generators

UNGÜLTIG herausgegeben am 31.10.1963

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IEEE 251-1984 UNGÜLTIG

IEEE Guide: Test Procedures for Direct-Current Tachometer Generators

UNGÜLTIG herausgegeben am 28.9.1984

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IEEE 252-1963 UNGÜLTIG

IEEE Proposed Procedure for Polyphase Induction Motors Having Liquid in the Magnetic Gap

UNGÜLTIG herausgegeben am 30.11.1963

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IEEE 252-1977 UNGÜLTIG

IEEE Test Procedure for Polyphase Induction Motors Having Liquid in the Magnetic Gap

UNGÜLTIG herausgegeben am 12.8.1977

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IEEE 252-1995 UNGÜLTIG

IEEE Standard Test Procedure for Polyphase Induction Motors Having Liquid in the Magnetic Gap

UNGÜLTIG herausgegeben am 30.11.1995

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IEEE 254-1963 UNGÜLTIG

IEEE Standard Definitions of Parametric Device Terms

UNGÜLTIG herausgegeben am 15.11.1963

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IEEE 255-1963 UNGÜLTIG

IEEE Standard Letter Symbols for Semiconductor Devices

UNGÜLTIG herausgegeben am 1.12.1963

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IEEE 256-1963 UNGÜLTIG

IEEE Test Procedure for Semiconductor Diodes

UNGÜLTIG herausgegeben am 20.12.1963

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