Normen ISO - Internationale Organisation für Standardisierung - Seite Nr. 1507

Soil quality — Determination of selected organotin compounds — Gas-chromatographic method
(Qualité du sol — Dosage d´une sélection de composés organostanniques — Méthode par chromatographie en phase gazeuse)

Die Norm herausgegeben am 9.10.2018

Basic semen examination — Specification and test methods
(Analyse de base du sperme — Spécifications et méthodologie analytique)

Die Norm herausgegeben am 1.7.2021

Nickel and nickel alloys — Refined nickel — Sampling
(Nickel et alliages de nickel — Nickel raffiné — Échantillonnage)

Die Norm herausgegeben am 20.3.2019

Automation systems and integration — Core vocabulary for industrial data
(Systemes d´automatisation et intégration — Vocabulaire de base pour les données industrielles)

Die Norm herausgegeben am 7.1.2025

Geometrical product specifications (GPS) — Guidelines for the evaluation of coordinate measuring machine (CMM) test uncertainty
(Spécification géométrique des produits (GPS) — Lignes directrices pour l´estimation de l´incertitude d´essai des machines a mesurer tridimensionnelles (MMT))

Die Norm herausgegeben am 13.7.2006

Nickel alloys — Determination of tantalum — Inductively coupled plasma optical emission spectrometric method
(Alliages de nickel — Détermination du tantale — Méthode par spectrométrie d´émission optique avec source a plasma induit par haute fréquence)

Die Norm herausgegeben am 5.12.2018

Information technology - Cloud computing - Common technologies and techniques

Die Norm herausgegeben am 11.2.2020

Paints and varnishes — Determination of water content — Gas-chromatographic method
(Peintures et vernis — Détermination de la teneur en eau — Méthode par chromatographie en phase gazeuse)

Die Norm herausgegeben am 11.4.2019

Paints and varnishes — On-site test methods on quality assessment for interior wall coatings
(Titre manque)

Die Norm herausgegeben am 7.1.2020

Surface chemical analysis — Depth profiling — Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering
(Analyse chimique des surfaces — Profilage d´épaisseur — Profilage d´épaisseur non destructif de films minces d´oxydes de métaux lourds a l´échelle nanométrique sur des substrats de Si par diffusion d´ions de moyenne énergie)

Die Norm herausgegeben am 15.6.2022