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JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 330

Normen JIS - Japanische technische Standards - Seite Nr. 330

Die Assoziation JIS befasst sich mit industriellen- und Mineralprodukten, vergleichbaren mit Normen, die von verschiedenen Industrieassoziationen zwecks Lösung konkreter Probleme, oder mit Normen, die von den Gesellschaften eingeführt und angewandt werden (Betriebsanleitungen, Produktspezifikationen usw.). Die Notwendigkeit eines gemeinsamen Verfahrens in den Gesellschaften des Industriesektors führt zur Einführung gemeinsamer Industrienormen sowie zur Erweiterung und folglich zur Entstehung der Assoziation JIS.

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JIS C5402-23-4:2006

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 23-4: Screening and filtering tests -- Test 23d: Transmission line reflections in the time domain

Die Norm herausgegeben am 25.3.2006

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JIS C5402-3-1:2005

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 3-1: Insulation tests -- Test 3a: Insulation resistance

Die Norm herausgegeben am 20.3.2005

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JIS C5402-4-1:2005

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-1: Voltage stress tests -- Test 4a: Voltage proof

Die Norm herausgegeben am 20.12.2005

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JIS C5402-4-2:2005

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-2: Voltage stress tests -- Test 4b: Partial discharge

Die Norm herausgegeben am 20.3.2005

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JIS C5402-4-3:2005

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-3: Voltage stress tests -- Test 4c: Voltage proof of pre-insulated crimp barrels

Die Norm herausgegeben am 20.3.2005

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JIS C5402-5-1:2005

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 5-1: Current-carrying capacity tests -- Test 5a: Temperature rise

Die Norm herausgegeben am 20.3.2005

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JIS C5402-5-2:2005

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 5-2: Current-carrying capacity tests -- Test 5b: Current-temperature derating

Die Norm herausgegeben am 20.3.2005

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JIS C5402-6-1:2005

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-1: Dynamic stress tests -- Test 6a: Acceleration, steady state

Die Norm herausgegeben am 20.3.2005

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JIS C5402-6-2:2005

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-2: Dynamic stress tests -- Test 6b: Bump

Die Norm herausgegeben am 20.3.2005

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JIS C5402-6-3:2005

Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 6-3: Dynamic stress tests -- Test 6c: Shock

Die Norm herausgegeben am 20.3.2005

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