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GOST 18986.11-84

Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods

Die Norm herausgegeben am 1.7.1985

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GOST 18986.12-74

Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode

Die Norm herausgegeben am 1.7.1976

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GOST 18986.13-74

Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage

Die Norm herausgegeben am 1.7.1976

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GOST 18986.14-85

Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances

Die Norm herausgegeben am 1.7.1986

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GOST 18986.15-75

Reference diodes. Method of measuring stabilization voltage

Die Norm herausgegeben am 1.1.1977

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GOST 18986.16-72

Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current

Die Norm herausgegeben am 1.1.1974

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GOST 18986.17-73

Reference diodes. Method of measuring of temperature coefficient of working voltage

Die Norm herausgegeben am 1.7.1974

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GOST 18986.18-73

Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance

Die Norm herausgegeben am 1.7.1974

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GOST 18986.19-73

Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor

Die Norm herausgegeben am 1.1.1975

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GOST 18986.20-77

Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time

Die Norm herausgegeben am 1.1.1979

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Letzte Aktualisierung: 2026-08-28 (Zahl der Positionen: 2 298 625)
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