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Field-effect transistors. Drain source resistance measurement technique
Die Norm herausgegeben am 1.1.1982
Ausgewählte Ausführung:Field-effect transistors. Method of measuring output power, power gain and drain efficiency
Die Norm herausgegeben am 1.1.1990
Ausgewählte Ausführung:Field-effect transistors. Noise figure measurement technique
Die Norm herausgegeben am 1.7.1976
Ausgewählte Ausführung:Field-effect transistors. Forward transconductance measurement technique
Die Norm herausgegeben am 1.7.1976
Ausgewählte Ausführung:Field-effect transistors. Active output conductance component measurement technique
Die Norm herausgegeben am 1.7.1976
Ausgewählte Ausführung:Field-effect transistors. Input transfer and output capacitance measurement technique
Die Norm herausgegeben am 1.7.1976
Ausgewählte Ausführung:Field-effect transistors. Gate leakage current measurement technique
Die Norm herausgegeben am 1.7.1976
Ausgewählte Ausführung:Field-effect transistors. Threshold and cut-off voltage measurement technique
Die Norm herausgegeben am 1.7.1976
Ausgewählte Ausführung:Field-effect transistors. Drain current for v(gs)=0 measurement technique
Die Norm herausgegeben am 1.7.1976
Ausgewählte Ausführung:Field-effect transistors. Forward fransconductance inpulse measurement technique
Die Norm herausgegeben am 1.1.1982
Ausgewählte Ausführung:Letzte Aktualisierung: 2026-10-30 (Zahl der Positionen: 2 208 138)
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