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ASTM E431-96
Standard Guide to Interpretation of Radiographs of Semiconductors and Related Devices
Automatische name übersetzung:
Standard-Leitfaden zur Interpretation der Röntgenbilder von Halbleiter und verwandte Einheiten
NORM herausgegeben am 10.12.1996
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM E431-96
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.1996
SKU: NS-46761
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Die Annotation des Normtextes ASTM E431-96 :
Keywords:
electronic devices, nondestructive testing, radiographs, radiography, reference illustrations, semiconductors, x-ray
Ergänzende Informationen
| 1. Scope | ||||||||
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1.1 This guide provides illustrations of radiographs of semiconductors and related devices. Low powered transistors (through the TO-11 case configuration), diodes, low-power rectifiers, power devices, and integrated circuits are illustrated with common assembly features. Particular areas of construction are featured for these devices detailing critical points of design or assembly. 1.2 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
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| 2. Referenced Documents | ||||||||
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