ASTM F980-16

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

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NORM herausgegeben am 1.12.2016


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis69.30 ohne MWS
69.30

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F980-16
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.12.2016
SKU: NS-674541
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconducting materials

Die Annotation des Normtextes ASTM F980-16 :

Keywords:
annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices ,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

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