ČSN EN 60749-2 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

Automatische name übersetzung:

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck. (Text-Standard ist nicht Teil einer Kopie).



NORM herausgegeben am 1.4.2003


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis2.50 ohne MWS
2.50

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-2
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 66854
Ausgabedatum normen: 1.4.2003
SKU: NS-158212
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconductor devices in general

Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-2 (358799):

Tato část normy IEC 60749 popisuje zkoušení nízkého tlaku vzduchu na polovodičových součástkách. Zkouška je určena především ke stanovení způsobilosti částí a materiálů součástek vyhnout se poruchám průrazem napětí, způsobeným snížením dielektrické pevnosti vzduchu a jiných dielektrických materiálů při snížených tlacích. Tato zkouška je vhodná pouze pro součástky u nichž pracovní napětí přesahuje 1 000 V. Tato zkouška je vhodná pro všechny polovodičové součástky, za předpokladu, že jejich pouzdra patří mezi typy s dutinou. Zkouška je určena pouze pro součástky používané pro vojenské a kosmické účely. Obecně je tato zkouška nízkým tlakem vzduchu v souladu s IEC 60068-2-13, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy.

Zugehörige Korrekturen zu dieser Norm:

ČSN EN 60749-2:2003/Oprava1 (358799) Korrektur

Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 2: Nízký tlak vzduchu. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).

Korrektur herausgegeben am 1.4.2007

Ausgewählte Ausführung:
Englisch (nur die Titelseite ist in der tschechischen Sprache) -
Gedruckt (2.50 EUR)


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