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ČSN EN 60749-8 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 8: Luftdichtheit. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.12.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-8
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 68968
Ausgabedatum normen: 1.12.2003
SKU: NS-158253
Zahl der Seiten: 44
Gewicht ca.: 132 g (0.29 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-8 (358799):
Tato část normy IEC 60749 je vhodná pro polovodičové součástky (diskrétní součástky a integrované obvody). Předmětem této zkušební metody je určit rychlost úniku pro polovodičové součástky.
Tato zkouška je identická se zkouškou obsaženou v článku 5, kapitoly 3, IEC 60749 (1996), změně 2, nehledě na doplněk tohoto článku a článku 2 a následující přečíslování.
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