Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelementen - Mikroelektromechanische Vorrichtungen - Teil 8: Testmethode für die Messung der Durchbiegung der Streifen Zugeigenschaften von dünnen Filmen. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.12.2011
Bezeichnung normen: ČSN EN 62047-8
Zeichen: 358775
Katalog-Nummer: 89570
Ausgabedatum normen: 1.12.2011
SKU: NS-161591
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Tato norma definuje zkušební metodu ohýbání proužku pro měření tahových vlastností tenkých vrstev. Vyznačuje se vysokou přesností, opakovatelností a přiměřenou snahou, aby zkouška byla srovnatelná s konvenční zkouškou. Tato zkušební metoda je platná pro zkoušené vzorky s tloušťkou mezi 50 nm až několika µm a s ohledem na poměr délky a tloušťky větší jak 300.
Proužek (nebo můstek), který je zavěšený mezi dvěma upevněnými podložkami je součástí MEMS, nebo mikrostroje. To umožňuje snadnější výrobu mikroproužku, než vzorků pro normalizovanou zkoušku. Zkušební postupy jsou tak jednoduché, že se dají snadno automatizovat. Tato norma může sloužit pro určování kvality při MEMS ve výrobě, protože průchodnost zkoušky je ve srovnání s klasickou zkouškou vysoká
1.6.2007
1.6.2007
UNGÜLTIG
1.4.2007
1.5.2007
1.5.2007
1.5.2011
Bereitstellung von aktuellen Informationen über legislative Vorschriften in der Sammlung der Gesetze bis zum Jahr 1945.
Aktualisierung 2x pro Monat!
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
Letzte Aktualisierung: 2025-04-30 (Zahl der Positionen: 2 198 114)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.