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ČSN EN 62373 (358767)
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Automatische name übersetzung:
Stabilitätstest MOSFET Belastungsspannung und Temperatur. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.3.2007
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 62373
Zeichen: 358767
Katalog-Nummer: 78056
Ausgabedatum normen: 1.3.2007
SKU: NS-162085
Zahl der Seiten: 32
Gewicht ca.: 96 g (0.21 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Die Annotation des Normtextes ČSN EN 62373 (358767):
Tato norma uvádí zkušební postupy pro zkoušení stability tranzistorů řízených polem (MOSFET) při kombinovaném namáhání napětím a teplotou. Při dlouhodobém namáhání zvýšenou teplotou a napětím G-S dochází k degradaci MOSFET, klesá saturační proud a vzrůstá absolutní hodnota prahového napětí. Zaváděná IEC 62373 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu.
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