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Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010)
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Tests für Ionen bewegen Feldeffekttransistoren (MOSFET) (Standard zur unmittelbaren Verwendung als CSN).
NORM herausgegeben am 1.12.2010
Bezeichnung normen: ČSN EN 62417
Zeichen: 358769
Katalog-Nummer: 87218
Ausgabedatum normen: 1.12.2010
SKU: NS-162133
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
UNGÜLTIG
1.7.1998
UNGÜLTIG
1.12.1997
1.3.2007
1.12.2010
Letzte Aktualisierung: 2026-05-21 (Zahl der Positionen: 2 279 758)
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