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ČSN EN 62417 (358769)
Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) (IEC 62417:2010)
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Tests für Ionen bewegen Feldeffekttransistoren (MOSFET) (Standard zur unmittelbaren Verwendung als CSN).
NORM herausgegeben am 1.12.2010
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 62417
Zeichen: 358769
Katalog-Nummer: 87218
Ausgabedatum normen: 1.12.2010
SKU: NS-162133
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Normansicht ČSN EN 62417 (358769)
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