Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ČSN EN IEC 60749-20-ed.3 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 1.4.2021
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-20-ed.3
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 512277
Ausgabedatum normen: 1.4.2021
SKU: NS-1020946
Zahl der Seiten: 40
Gewicht ca.: 120 g (0.26 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 60749-20-ed.3 (358799):
Tato norma poskytuje prostředky pro hodnocení odolnosti proti teplu při pájení uzavřených polovodičů, jako jsou v plastu zapouzdřené součástky pro povrchovou montáž (SMD). Tato zkouška je destruktivní
Normansicht ČSN EN IEC 60749-20-ed.3 (358799)
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
