Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ČSN EN IEC 60749-41 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 1.4.2021
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-41
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 512197
Ausgabedatum normen: 1.4.2021
SKU: NS-1020947
Zahl der Seiten: 36
Gewicht ca.: 108 g (0.24 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 60749-41 (358799):
Tato norma stanovuje procedurální požadavky na provádění platných zkoušek výdrže, uchování a zkoušek na opačné teplotě založené na kvalifikační specifikaci. Kvalifikační specifikace výdrže a uchování (pro počet cyklů, trvání, teploty a velikosti vzorku) jsou specifikovány v JESD47, nebo jsou vyvíjeny pomocí metod vycházejících ze znalostí JESD94
