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ČSN EN IEC 60749-41 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
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NORM herausgegeben am 1.4.2021
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 60749-41
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 512197
Ausgabedatum normen: 1.4.2021
SKU: NS-1020947
Zahl der Seiten: 36
Gewicht ca.: 108 g (0.24 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
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Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 60749-41 (358799):
Tato norma stanovuje procedurální požadavky na provádění platných zkoušek výdrže, uchování a zkoušek na opačné teplotě založené na kvalifikační specifikaci. Kvalifikační specifikace výdrže a uchování (pro počet cyklů, trvání, teploty a velikosti vzorku) jsou specifikovány v JESD47, nebo jsou vyvíjeny pomocí metod vycházejících ze znalostí JESD94
Normansicht ČSN EN IEC 60749-41 (358799)
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