Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ČSN EN IEC 63287-1 (358777)
Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 1.4.2022
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN IEC 63287-1
Zeichen: 358777
Katalog-Nummer: 514694
Ausgabedatum normen: 1.4.2022
SKU: NS-1052546
Zahl der Seiten: 56
Gewicht ca.: 168 g (0.37 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ČSN EN IEC 63287-1 (358777):
Tato norma poskytuje směrnice pro kvalifikační plány spolehlivosti výrobků polovodičových integrovaných obvodů. Tento dokument není určen pro vojenské a kosmické aplikace. POZNÁMKA 1 - Výrobce může používat flexibilní rozsahy výběru vzorku, aby snížil náklady a udržel přiměřenou spolehlivost a to za pomoci adaptace této směrnice, která je založena na EDR-4708, AEC Q100, JESD47 nebo jiném relevantním dokumentu, pokud je specifikován. POZNÁMKA 2 - Weibullova distribuční metoda použitá v tomto dokumentu je jednou z několika metod pro výpočet vhodného rozsahu výběru vzorku a zkušebních podmínek pro daný projekt spolehlivosti
Normansicht ČSN EN IEC 63287-1 (358777)
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
