Die Norm DIN EN 60749-20-1:2009-10 1.10.2009 Ansicht

DIN EN 60749-20-1:2009-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat.

Automatische name übersetzung:

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Transport oberflächenmontierbarer Bauelemente, die empfindlich gegen die Kombination von Feuchte und Lötwärme sind.



NORM herausgegeben am 1.10.2009


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis120.80 ohne MWS
120.80

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: DIN EN 60749-20-1:2009-10
Ausgabedatum normen: 1.10.2009
SKU: NS-237805
Zahl der Seiten: 39
Gewicht ca.: 117 g (0.26 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconductor devices in general

Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-20-1:2009-10 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Transport oberflächenmontierbarer Bauelemente, die empfindlich gegen die Kombination von Feuchte und Lötwärme sind.

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