E DIN EN 62047-26:20..
Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
DIN EN 60749-25:2004-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel.
NORM herausgegeben am 1.4.2004
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: DIN EN 60749-25:2004-04
Ausgabedatum normen: 1.4.2004
SKU: NS-237814
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Deutsche technische Norm
Kategorie: Technische Normen DIN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes DIN EN 60749-25:2004-04 :
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel.
Ähnliche Normen:
UNGÜLTIG
1.5.2014
1.2.2007
1.3.2011
1.3.2012
1.7.2010
1.2.2012
Empfehlungen:
EEviZak – alle Gesetze einschließlich ihrer Evidenz in einer Stelle
Bereitstellung von aktuellen Informationen über legislative Vorschriften in der Sammlung der Gesetze bis zum Jahr 1945.
Aktualisierung 2x pro Monat!
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
