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Semiconductor devices - Part 14-3: Semiconductor sensors - Pressure sensors
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Teil 14-3: Halbleitersensoren - Drucksensoren
NORM herausgegeben am 29.4.2009
Bezeichnung normen: IEC 60747-14-3-ed.2.0
Ausgabedatum normen: 29.4.2009
SKU: NS-411279
Zahl der Seiten: 37
Gewicht ca.: 111 g (0.24 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
IEC 60747-14-3:2009 specifies requirements for semiconductor pressure sensors measuring absolute, gauge or differential pressures. The major technical change with regard to the previous edition is the addition of a new subclause 5.9 (measuring method of linearity). This publication should be read in conjunction with IEC 60747-1:2006. La CEI 60747-14-3:2009 specifie les exigences pour les capteurs de pression a semiconducteurs mesurant les pressions absolues, manometriques ou differentielles. Les modifications techniques majeures par rapport a ledition precedente sont les suivantes: ajout dun nouveau paragraphe 5.9 (methode de mesure de la linearite). Cette publication doit etre lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006.
7.4.2009
16.6.2011
14.3.2011
13.7.2011
7.4.2009
25.5.2011
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Letzte Aktualisierung: 2026-01-26 (Zahl der Positionen: 2 257 479)
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