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IEC 60749-1-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeine
NORM herausgegeben am 30.8.2002
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60749-1-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 30.8.2002
SKU: NS-411361
Zahl der Seiten: 15
Gewicht ca.: 45 g (0.10 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 60749-1-ed.1.0 :
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres)et etablit des dispositions communes a toutes les autres parties de la serie. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.
Zugehörige Korrekturen zu dieser Norm:
IEC 60749-1-ed.1.0/Cor.1
Korrektur
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Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)
Korrektur herausgegeben am 12.8.2003
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
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