Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC 60749-1-ed.1.0/Cor.1
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Automatische name übersetzung:
Korrektur 1 - Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeine
NORM herausgegeben am 12.8.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60749-1-ed.1.0/Cor.1
Anmerkung: Korrektur
Ausgabedatum normen: 12.8.2003
SKU: NS-411360
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes IEC 60749-1-ed.1.0/Cor.1 :
Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.
Diese Änderung (Korrektur) bezieht sich auf diese Norm:
IEC 60749-1-ed.1.0
Alle technischen Informationen anzeigen
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 1: Generalites)
Die Norm herausgegeben am 30.8.2002
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
