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IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.2
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
Automatische name übersetzung:
Berichtigung 2 - Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11 : Schnelle Temperaturwechsel - Zwei - Fluid -bath Verfahren
NORM herausgegeben am 13.8.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.2
Anmerkung: Korrektur
Ausgabedatum normen: 13.8.2003
SKU: NS-411365
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes IEC 60749-11-ed.1.0/Cor.2 :
Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validite : fixee maintenant a 2007.
Diese Änderung (Korrektur) bezieht sich auf diese Norm:
IEC 60749-11-ed.1.0
Alle technischen Informationen anzeigen
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 11: Variations rapides de temperature - Methode des deux bains)
Die Norm herausgegeben am 12.4.2002
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
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