Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
IEC 60749-32-ed.1.0
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 32: Brandverhalten der kunststoffgekapselte Geräte (extern induzierte)
NORM herausgegeben am 30.8.2002
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 60749-32-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 30.8.2002
SKU: NS-411404
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes IEC 60749-32-ed.1.0 :
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Applicable aux dispositifs a semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits integres), cet essai determine si le dispositif prend feu en raison dune chaleur exterieure. Lessai est pratique avec un bruleur-aiguille, simulant leffet de petites flammes pouvant resulter de mauvaises conditions apparaissant dans lequipement contenant le dispositif. Le contenu du corrigendum daout 2003 a ete pris en consideration dans cet exemplaire.
Zugehörige Änderungen zu dieser Norm:
IEC 60749-32-ed.1.0/Amd.1
Änderung
Alle technischen Informationen anzeigen
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
(Amendement 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 32: Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique (cas d´une cause exterieure d´inflammation))
Änderung herausgegeben am 28.7.2010
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
Zugehörige Korrekturen zu dieser Norm:
IEC 60749-32-ed.1.0/Cor.1
Korrektur
Alle technischen Informationen anzeigen
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
(Corrigendum 1 - Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 32: Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique (cas d´une cause exterieure d´inflammation))
Korrektur herausgegeben am 13.8.2003
Ausgewählte Ausführung:Alle technischen Informationen anzeigen
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
