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IEC 62132-2-ed.1.0
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method
Automatische name übersetzung:
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der gestrahlten Störfestigkeit - TEM-Zelle und Breitband-TEM-Zelle Methode
NORM herausgegeben am 30.3.2010
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: IEC 62132-2-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 30.3.2010
SKU: NS-414223
Zahl der Seiten: 49
Gewicht ca.: 147 g (0.32 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
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Die Annotation des Normtextes IEC 62132-2-ed.1.0 :
IEC 62132-2:2010 specifies a method for measuring the immunity of an integrated circuit (IC) to radio frequency (RF) radiated electromagnetic disturbances. The frequency range of this method is from 150 kHz to 1 GHz, or as limited by the characteristics of the TEM cell. La CEI 62132-2:2010 specifie une methode de mesure de limmunite dun circuit integre (CI) aux perturbations electromagnetiques rayonnees aux frequences radioelectriques. La gamme de frequences de cette methode est comprise entre 150 kHz et 1 GHz, ou dans les limites fixees par les caracteristiques de la cellule TEM.
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