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Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 2: Synchronous transient injection method
Automatische name übersetzung:
Integrierte Schaltungen - Messung der Impuls Störfestigkeit - Teil 2: Synchrone transiente Injektionsverfahren
NORM herausgegeben am 10.9.2007
Bezeichnung normen: IEC/TS 62215-2-ed.1.0
Ausgabedatum normen: 10.9.2007
SKU: NS-408115
Zahl der Seiten: 27
Gewicht ca.: 81 g (0.18 Pfund)
Land: Internationale technische Norm
Kategorie: Technische Normen IEC
Contains general information and definitions on the test method to evaluate the immunity of integrated circuits (ICs) against fast conducted synchronous transient disturbances.The objective is to describe general conditions to obtain a quantitative measure of immunity of ICs establishing a uniform testing environment. Critical parameters that are expected to influence the test results are described. Deviations from this specification should be explicitly noted in the individual test report. This synchronous transient immunity measurement method uses short impulses with fast rise times of different amplitude, duration and polarity in a conductive mode to the IC. In this method, the applied impulse has to be synchronized with the activity of the IC to make sure that controlled and reproducible conditions can be assured
23.5.2002
17.5.2002
17.5.2002
3.10.2003
2.8.1991
1.1.1986
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Letzte Aktualisierung: 2025-07-14 (Zahl der Positionen: 2 208 183)
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