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ÖVE EN IEC 60749-34-1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 34-1: Power cycling test for power semiconductor module (( IEC 60749-34-1:2025) EN IEC 60749-34-1:2025) (german version)
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NORM herausgegeben am 1.8.2026
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ÖVE EN IEC 60749-34-1
Ausgabedatum normen: 1.8.2026
SKU: NS-1279314
Zahl der Seiten: 30
Gewicht ca.: 90 g (0.20 Pfund)
Land: Österreichische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ÖNORM
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Die Annotation des Normtextes ÖVE EN IEC 60749-34-1 :
Dieser Teil von IEC 60749 beschreibt ein Prüfverfahren, das zur Ermittlung der Widerstandsfähigkeit eines Leistungshalbleitermoduls gegen aus Lastwechselzyklen resultierende thermische und mechanische Beanspruchungen der im Gehäuse montierten Halbleiter wie auch der innen liegenden Verbinder verwendet wird. Er basiert auf IEC 60749-34, wurde jedoch speziell für Leistungshalbleitermodulprodukte entwickelt, darunter Bipolartransistoren mit isoliertem Gate (IGBT), Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET), Dioden und Thyristoren.
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