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STN EN 60749-27 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladung (ESD). Maschinen-Modell (MM) (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.5.2007
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE | |
|
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Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-27
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 103445
Ausgabedatum normen: 1.5.2007
SKU: NS-528317
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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Änderung
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Änderung herausgegeben am 1.4.2013
Ausgewählte Ausführung: Englisch - Gedruckt (AUF ANFRAGE)
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