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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladung (ESD). Maschinen-Modell (MM) (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.5.2007
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE | |
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Bezeichnung normen: STN EN 60749-27
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 103445
Ausgabedatum normen: 1.5.2007
SKU: NS-528317
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Änderung herausgegeben am 1.4.2013
Ausgewählte Ausführung: UNGÜLTIG
1.10.2003
1.11.2003
UNGÜLTIG
1.4.2010
1.9.2009
1.12.2011
1.1.2004
Letzte Aktualisierung: 2024-04-19 (Zahl der Positionen: 2 860 954)
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