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STN EN 60749-27:2007/A1 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladung (ESD). Maschinenmodell (MM) (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.4.2013
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-27:2007/A1
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 116779
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 1.4.2013
SKU: NS-528316
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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STN EN 60749-27 (358799)
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
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Ausgewählte Ausführung: Englisch - Gedruckt (AUF ANFRAGE)
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