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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
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NORM herausgegeben am 1.10.2017
Sprache | |
Realisierung |
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Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 60749-3
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 125483
Ausgabedatum normen: 1.10.2017
SKU: NS-797482
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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Letzte Aktualisierung: 2024-04-19 (Zahl der Positionen: 2 860 954)
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