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STN EN 60749-35 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 35: Akustische Mikroskopie für Komponenten im Kunststoffkoffer (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.6.2007
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-35
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 103750
Ausgabedatum normen: 1.6.2007
SKU: NS-528329
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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