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STN EN 60749-37 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 37: Prüfverfahren für Fallenlassen der gesetzten Platten mit dem Beschleunigungsmesser (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.11.2008
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUFANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-37
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 107047
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2008
SKU: NS-528331
Zahl der Seiten: 23
Gewicht ca.: 69 g (0.15 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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