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STN EN 60749-38 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Teil 38: Ein Softwarefehler Testverfahren für die Halbleitergerätespeicher (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.1.2009
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 60749-38
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 107323
Ausgabedatum normen: 1.1.2009
SKU: NS-528332
Zahl der Seiten: 17
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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