Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ČSN EN 60749-38 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Verfahren zur Prüfung der Häufigkeit von auftretenden Fehlern Halbleiterspeicher. (Nur in Englisch, ist der Text Teil einer Kopie).
NORM herausgegeben am 1.10.2008
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ČSN EN 60749-38
Zeichen: 358799
Katalog-Nummer: 81989
Ausgabedatum normen: 1.10.2008
SKU: NS-158243
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Tschechische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ČSN
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ČSN EN 60749-38 (358799):
Tato část normy popisuje postup měření výskytu občasných chyb polovodičových součástek s pamětí, které jsou vystaveny částicím s vysokou energií, jako je alfa záření. Jsou popsány dvě zkoušky; zrychlená zkouška používá zdroj záření alfa a (neurychlovaná) zkouška systému v reálném čase, kde libovolné chyby jsou generovány za podmínek přirozeného výskytu záření, což může být alfa záření a jiná záření, například neutronová. Pro úplné popsání výskytu občasných chyb integrovaných obvodů s pamětí musí být součástka zkoušena pro široké spektrum částic s vysokých energií a tepelných neutronů a musí se použít další zkušební metody. Tato zkušební metoda může být použita pro libovolný typ integrovaného obvodu s pamětí.
Ähnliche Normen:
UNGÜLTIG
1.4.2003
UNGÜLTIG
1.4.2003
1.6.2004
UNGÜLTIG
1.7.2011
1.11.2003
UNGÜLTIG
1.12.2003
