Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Elektromechanische Mikrobauteile. Teil 17: Messung der mechanischen Eigenschaften von dünnen Schichten von prall Prüfverfahren (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.12.2015
Sprache | |
Realisierung |
|
Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
AUF ANFRAGE |
Bezeichnung normen: STN EN 62047-17
Zeichen: 358792
Katalog-Nummer: 121889
Ausgabedatum normen: 1.12.2015
SKU: NS-621880
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
Letzte Aktualisierung: 2024-03-25 (Zahl der Positionen: 2 885 931)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.