Die Norm STN EN 62047-17 1.12.2015 Ansicht

STN EN 62047-17 (358792)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films

Automatische name übersetzung:

Halbleitervorrichtungen. Elektromechanische Mikrobauteile. Teil 17: Messung der mechanischen Eigenschaften von dünnen Schichten von prall Prüfverfahren (IEC STN).



NORM herausgegeben am 1.12.2015


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitDer Verkauf wurde beendet
PreisAUF ANFRAGE ohne MWS
AUF ANFRAGE

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: STN EN 62047-17
Zeichen: 358792
Katalog-Nummer: 121889
Ausgabedatum normen: 1.12.2015
SKU: NS-621880
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN

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