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STN EN 62373 (358794)
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
Automatische name übersetzung:
Testen der Auswirkungen der Temperatur auf die Stabilität von Feldeffekttransistoren mit Metall-Oxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC STN).
NORM herausgegeben am 1.5.2007
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | Der Verkauf wurde beendet |
| Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: STN EN 62373
Zeichen: 358794
Katalog-Nummer: 103447
Ausgabedatum normen: 1.5.2007
SKU: NS-532086
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Slowakische technische Norm
Kategorie: Technische Normen STN
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