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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 1: General
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeine
NORM herausgegeben am 28.5.2004
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-1:2004
Ausgabedatum normen: 28.5.2004
SKU: NS-560985
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
28.6.2002
28.5.2004
10.10.2003
28.6.2002
21.3.2002
28.6.2002
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Letzte Aktualisierung: 2026-10-26 (Zahl der Positionen: 2 208 060)
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