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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method.
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: extreme Temperaturänderung - Zwei-Fluid-BAD METHODE.
NORM herausgegeben am 30.5.2003
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-11:2003
Ausgabedatum normen: 30.5.2003
SKU: NS-560987
Zahl der Seiten: 21
Gewicht ca.: 63 g (0.14 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Letzte Aktualisierung: 2026-10-26 (Zahl der Positionen: 2 208 060)
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