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UNE-EN 60749-14:2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 14: Robustheit der Anschlüsse (Elektrodenintegrität)
NORM herausgegeben am 11.6.2004
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-14:2004
Ausgabedatum normen: 11.6.2004
SKU: NS-560990
Zahl der Seiten: 35
Gewicht ca.: 105 g (0.23 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
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