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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. TEIL 16: Partikelaufprall Rauscherkennung (PIND)
NORM herausgegeben am 21.11.2003
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-16:2003
Ausgabedatum normen: 21.11.2003
SKU: NS-560992
Zahl der Seiten: 20
Gewicht ca.: 60 g (0.13 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Letzte Aktualisierung: 2026-10-26 (Zahl der Positionen: 2 208 060)
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