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UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Automatische name übersetzung:
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 19 : DIE SCHERFESTIGKEIT
NORM herausgegeben am 19.1.2011
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-19:2003/A1:2011
Anmerkung: Änderung
Ausgabedatum normen: 19.1.2011
SKU: NS-560995
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
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Diese Änderung (Korrektur) bezieht sich auf diese Norm:
UNE-EN 60749-19:2003
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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 19: Die shear strength
Die Norm herausgegeben am 21.11.2003
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