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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
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NORM herausgegeben am 11.6.2004
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-20:2004
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 11.6.2004
SKU: NS-1118052
Zahl der Seiten: 57
Gewicht ca.: 171 g (0.38 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Letzte Aktualisierung: 2026-01-14 (Zahl der Positionen: 2 254 595)
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