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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
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NORM herausgegeben am 6.10.2023
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-20:2009
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 6.10.2023
SKU: NS-1158355
Zahl der Seiten: 31
Gewicht ca.: 93 g (0.21 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE
Letzte Aktualisierung: 2026-08-13 (Zahl der Positionen: 2 293 179)
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